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EL检测常见问题及解决方法

作者: 三工光电   时间:2015-11-17 阅读:2504


1、破片

生产过程中由于铺设、层压操作不当导致热应力、机械应力作用不均匀都有可能出现破片现象。

2、黑芯

黑芯一般是由于原材料商在拉硅棒的时候没有拉均匀所致。

3、断栅

断栅的原因是丝网印刷参数没调好或丝网印刷质量不佳,或者是硅片切割不均匀,也有可能出现断层现象。

4、暗片

出现暗片的原因是由于硅片存在缺陷,导致少子数目变少,在电致发光的作用下,缺陷出发出的光相对比正常地方发出的光少,所以在相机的照片中显出黑暗。

5、低效片

若低电流、电压、FF可能是硅片和PN结的问题;也有可能是扩散的问题或原材料的问题如(铝浆)过刻的危害;减小有效光电池面积直接影响短路电流;增加电池材料的高频损伤、降低电池参数;会造成一定程度的漏电。

解决方法:组件测试中出现以上几种问题,都会对组件质量照成严重影响,必须做返工处理

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